Generalized Cross-Entropy Benchmarking for Random Circuits with Ergodicity

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cheng, Bin, Meng, Fei, Zhang, Zhi-Jiong, Yung, Man-Hong
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
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