Vision-Language In-Context Learning Driven Few-Shot Visual Inspection Model

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ueno, Shiryu, Hayashi, Yoshikazu, Nakatsuka, Shunsuke, Yamada, Yusei, Aizawa, Hiroaki, Kato, Kunihito
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2502.09057