Electrically active defects in 3C, 4H and 6H silicon carbide polytypes: A review

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autore principale: Capan, Ivana
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Documenti analoghi