Voltage Noise Thermometry in Integrated Circuits at Millikelvin Temperatures

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Ridgard, G., Thompson, M., Schreckenberg, L., Deshpande, N., Cabrera-Galicia, A., Bourgeois, O., Doebele, V., Prance, J.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Applied Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Descripción
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