Voltage Noise Thermometry in Integrated Circuits at Millikelvin Temperatures

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Ridgard, G., Thompson, M., Schreckenberg, L., Deshpande, N., Cabrera-Galicia, A., Bourgeois, O., Doebele, V., Prance, J.
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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