Carrier Emission and Capture Competition mediated A(n)BC Recombination Model in Semiconductors with Multi-Level Defects

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Wang, Shanshan, Huang, Menglin, Wei, Su-Huai, Gong, Xin-Gao, Chen, Shiyou
Format: Preprint
Publié: 2025
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