Nanoscale characterization of atomic positions in orthorhombic perovskite thin films

Fuente: arXiv

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Auteurs principaux:	Martirosyan, M., Passuti, S., Masset, G., Varignon, J., Chintakindi, H., Ghanbaja, J., Migot, S., Benedit-Cardenas, A., Pasquier, L., Dumesnil, K., Palatinus, L., Prellier, W., David, A., Boullay, Ph., Copie, O.
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Materials Science
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