Annealing behaviour of charge collection of neutron irradiated diodes from 8-inch p-type silicon wafers

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Kałuzińska, Oliwia Agnieszka, Diehl, Leena, Sicking, Eva, Mühlnikel, Marie Christin, de Almeida, Pedro Gonçalo Dias, Kieseler, Jan, Kettner, Matthias, Walter, David, Defranchis, Matteo M.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Instrumentation and Detectors High Energy Physics - Experiment
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