Quality Concerns Caused by Quality Control -- deformation of silicon strip detector modules in thermal cycling tests

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Salami, Richard, Poley, Luise, Affolder, Kirsten, Affolder, Tony, Bayer, Lukas, Crick, Ben, Duden, Emily, Dyckes, Ian George, Fadeyev, Vitaliy, Fortman, Anne, Federic, Pavol, Franconi, Laura, Gignac, Matthew, Gupta, Shubham, Hallford, John, Helling, Cole, Hill, Ewan, Hu, Miao, Kroll, Jiri, Kumari, Priyanka, Lacasta, Carlos, Levagood, Madison, Lopez, Hanlez, Morelos-Zaragoza, Len, Moshe, Meny Raviv, Petersen, Aaron, Platero, Vicente, Rajagopalan, Archa Devi, Sitnikova, Lisa, Solaz, Carles, Soldevila, Urmila, Speers, Peter, Van Nieuwenhuizen, Gerrit, Wang, Alex Zeng
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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