Quality Concerns Caused by Quality Control -- deformation of silicon strip detector modules in thermal cycling tests

Fuente: arXiv
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Auteurs principaux: Salami, Richard, Poley, Luise, Affolder, Kirsten, Affolder, Tony, Bayer, Lukas, Crick, Ben, Duden, Emily, Dyckes, Ian George, Fadeyev, Vitaliy, Fortman, Anne, Federic, Pavol, Franconi, Laura, Gignac, Matthew, Gupta, Shubham, Hallford, John, Helling, Cole, Hill, Ewan, Hu, Miao, Kroll, Jiri, Kumari, Priyanka, Lacasta, Carlos, Levagood, Madison, Lopez, Hanlez, Morelos-Zaragoza, Len, Moshe, Meny Raviv, Petersen, Aaron, Platero, Vicente, Rajagopalan, Archa Devi, Sitnikova, Lisa, Solaz, Carles, Soldevila, Urmila, Speers, Peter, Van Nieuwenhuizen, Gerrit, Wang, Alex Zeng
Format: Preprint
Publié: 2025
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