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Quality Concerns Caused by Quality Control -- deformation of silicon strip detector modules in thermal cycling tests

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Salami, Richard, Poley, Luise, Affolder, Kirsten, Affolder, Tony, Bayer, Lukas, Crick, Ben, Duden, Emily, Dyckes, Ian George, Fadeyev, Vitaliy, Fortman, Anne, Federic, Pavol, Franconi, Laura, Gignac, Matthew, Gupta, Shubham, Hallford, John, Helling, Cole, Hill, Ewan, Hu, Miao, Kroll, Jiri, Kumari, Priyanka, Lacasta, Carlos, Levagood, Madison, Lopez, Hanlez, Morelos-Zaragoza, Len, Moshe, Meny Raviv, Petersen, Aaron, Platero, Vicente, Rajagopalan, Archa Devi, Sitnikova, Lisa, Solaz, Carles, Soldevila, Urmila, Speers, Peter, Van Nieuwenhuizen, Gerrit, Wang, Alex Zeng
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	High Energy Physics - Experiment Instrumentation and Detectors
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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