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Dislocation correlations in GaN epitaxial films revealed by EBSD and XRD

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Kaganer, Vladimir M., Spallek, Domenik, John, Philipp, Brandt, Oliver, Lähnemann, Jonas
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Materials Science
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