DarkBench: Benchmarking Dark Patterns in Large Language Models

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Kran, Esben, Nguyen, Hieu Minh "Jord", Kundu, Akash, Jawhar, Sami, Park, Jinsuk, Jurewicz, Mateusz Maria
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computation and Language Artificial Intelligence Computers and Society
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2503.10728