Hot-carrier thermal breakdown and S-type current-voltage characteristics in perforated graphene structures

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Ryzhii, V., Tang, C., Ryzhii, M., Shur, M. S.
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Mesoscale and Nanoscale Physics
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2503.13943