Towards Identifying the PL6 Center in SiC: From First-Principles Screening to Hyperfine Validation of Competing Defect Candidates

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
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Hauptverfasser: Zhao, Xin, Liu, Mingzhe, Chen, Yu, Zhang, Qi, Duan, Chang-Kui
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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