Lie Detector: Unified Backdoor Detection via Cross-Examination Framework

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Wang, Xuan, Liang, Siyuan, Liao, Dongping, Fang, Han, Liu, Aishan, Cao, Xiaochun, Lu, Yu-liang, Chang, Ee-Chien, Gao, Xitong
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Machine Learning Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2503.16872