AI-driven Automation of End-to-end Assessment of Suturing Expertise

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Deo, Atharva, Matsumoto, Nicholas, Kim, Sun, Wager, Peter, Tsai, Randy G., Denmark, Aaron, Yang, Cherine, Li, Xi, Moran, Jay, Hernandez, Miguel, Hung, Andrew J.
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Machine Learning
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