Do Your Best and Get Enough Rest for Continual Learning

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Kang, Hankyul, Seifer, Gregor, Lee, Donghyun, Ryu, Jongbin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Machine Learning
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https://arxiv.org/abs/2503.18371