A systematic approach for quantitative orientation and phase fraction analysis of thin films through grazing incidence X-ray diffraction

Fuente: arXiv
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Autori principali: Gasser, Fabian, John, Sanjay, Smets, Jorid, Simbrunner, Josef, Fratschko, Mario, Rubio-Giménez, Víctor, Ameloot, Rob, Steinrück, Hans-Georg, Resel, Roland
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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