Strain distribution in GaN/AlN superlattices grown on AlN/sapphire templates: comparison of X-ray diffraction and photoluminescence studies

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wierzbicka, Aleksandra, Kaminska, Agata, Sobczak, Kamil, Jankowski, Dawid, Koronski, Kamil, Strak, Pawel, Sobanska, Marta, Zytkiewicz, Zbigniew R.
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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