NeRF-Based defect detection

Fuente: arXiv

Guardado en:

Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Tianqi, Ding, Xiang, Dawei, Qi, Yijiashun, Yang, Ze, Zhao, Zunduo, Sun, Tianyao, Feng, Pengbin, Wang, Haoyu
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2504.00270