A dual-scale stochastic analysis framework for creep failure considering microstructural randomness

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Kong, Weichen, Dai, Yanwei, Zhang, Xiang, Liu, Yinghua
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Classical Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2504.00507