A dual-scale stochastic analysis framework for creep failure considering microstructural randomness

Fuente: arXiv
Salvato in:
Dettagli Bibliografici
Autori principali: Kong, Weichen, Dai, Yanwei, Zhang, Xiang, Liu, Yinghua
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
Soggetti:
Accesso online:
Tags: Aggiungi Tag
Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Documenti analoghi