TestDG: Test-time Domain Generalization for Continual Test-time Adaptation

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Lee, Sohyun, Kim, Nayeong, Kang, Juwon, Oh, Seong Joon, Kwak, Suha
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
Accès en ligne:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2504.04981