TestDG: Test-time Domain Generalization for Continual Test-time Adaptation

Fuente: arXiv

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Lee, Sohyun, Kim, Nayeong, Kang, Juwon, Oh, Seong Joon, Kwak, Suha
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2025
Soggetti:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence
Accesso online:	Acceder al recurso
Tags:	Aggiungi Tag Nessun Tag, puoi essere il primo ad aggiungerne!!

Accesso online

https://arxiv.org/abs/2504.04981