Characterising the failure mechanisms of error-corrected quantum logic gates

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Harper, Robin, Lainé, Constance, Hockings, Evan, McLauchlan, Campbell, Nixon, Georgia M., Brown, Benjamin J., Bartlett, Stephen D.
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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