Design Optimization of Flip FET Standard Cells with Dual-sided Pins for Ultimate Scaling

Fuente: arXiv

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Auteurs principaux:	Gui, Rui, Lu, Haoran, Sun, Jiacheng, Jiang, Xun, Zhang, Lining, Li, Ming, Lin, Yibo, Wang, Runsheng, Wu, Heng, Huang, Ru
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Mesoscale and Nanoscale Physics
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https://arxiv.org/abs/2504.10122