From Bugs to Benchmarks: A Comprehensive Survey of Software Defect Datasets

Fuente: arXiv
Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Zhu, Hao-Nan, Furth, Robert M., Pradel, Michael, Rubio-González, Cindy
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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