LR-IAD:Mask-Free Industrial Anomaly Detection with Logical Reasoning

Fuente: arXiv

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Détails bibliographiques
Auteurs principaux:	Zeng, Peijian, Pang, Feiyan, Wang, Zhanbo, Yang, Aimin
Format:	Preprint
Publié:	2025
Sujets:	Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2504.19524