Static marginal expected shortfall: Systemic risk measurement under dependence uncertainty

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Chen, Jinghui, Furman, Edward, Lin, X. Sheldon
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Risk Management Statistics Theory Applications
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2504.19953