Textured growth and electrical characterization of Zinc Sulfide on back-end-of-the-line (BEOL) compatible substrates

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Wu, Claire, Surendran, Mythili, Priyoti, Anika Tabassum, Anilkumar, Gokul, Wu, Cheng-Hsien, Wang, Chun-Chen, Kuo, Cheng-Chen, Kumarasubramanian, Harish, Lin, Kenta, Butler, Amari, Kapadia, Rehan, Bao, Xinyu, Ravichandran, Jayakanth
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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