Experimental Observation of Extremely Strong Defect-Phonon Scatterings in Semiconductor Single Crystals

Fuente: arXiv
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Hauptverfasser: Huang, Zifeng, Liang, Jianbo, Wang, Yuxiang, Sun, Zixuan, Shigekawa, Naoteru, Li, Ming, Wang, Runsheng, Cheng, Zhe
Format: Preprint
Veröffentlicht: 2025
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