Quantifying Flat-Band Voltage in Si Metal-Oxide-Semiconductor Structures: An Evaluation via Terahertz Emission Spectroscopy (TES)
Fuente:
arXiv
Salvato in:
| Autori principali: | , |
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| Natura: | Preprint |
| Pubblicazione: |
2025
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| Soggetti: | |
| Accesso online: | |
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