Zhang, R., & Sun, J. (2025). A Test Suite for Efficient Robustness Evaluation of Face Recognition Systems.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Zhang, Ruihan, und Jun Sun. A Test Suite for Efficient Robustness Evaluation of Face Recognition Systems. 2025.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Zhang, Ruihan, und Jun Sun. A Test Suite for Efficient Robustness Evaluation of Face Recognition Systems. 2025.
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