DeCo: Defect-Aware Modeling with Contrasting Matching for Optimizing Task Assignment in Online IC Testing

Fuente: arXiv
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Autori principali: Ting, Lo Pang-Yun, Chiang, Yu-Hao, Tsai, Yi-Tung, Lai, Hsu-Chao, Chuang, Kun-Ta
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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