On Simulating Thin-Film Processes at the Atomic Scale Using Machine Learned Force Fields

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Natarajan, S. Kondati, Schneider, J., Pandey, N., Wellendorff, J., Smidstrup, S.
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Machine Learning
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

Internet

https://arxiv.org/abs/2505.01118