Microwave-field quantum metrology with inherent robustness against detection losses enabled by Rydberg interactions

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Kurzyna, Stanisław, Niewelt, Bartosz, Mazelanik, Mateusz, Wasilewski, Wojciech, Demkowicz-Dobrzański, Rafał, Parniak, Michał
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Quantum Physics Atomic Physics Optics
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https://arxiv.org/abs/2505.01506