Enhancing atomic-resolution in electron microscopy: A frequency-domain deep learning denoiser

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Pinto-Huguet, Ivan, Botifoll, Marc, Chen, Xuli, Eriksen, Martin Borstad, Yu, Jing, Isella, Giovanni, Cabot, Andreu, Merino, Gonzalo, Arbiol, Jordi
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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https://arxiv.org/abs/2505.01789