Buchumschlag

Characterisation of Crystalline Defects in 4H Silicon Carbide using DLTS and TSC

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Sorgenfrei, Niels, Arnqvist, Elias, Gurimskaya, Yana, Moll, Michael, Parzefall, Ulrich, Rizwan, Faiza, Wiehe, Moritz
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Instrumentation and Detectors
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