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Investigation of Low Frequency Noise in CryoCMOS devices through Statistical Single Defect Spectroscopy

Fuente: arXiv

Salvato in:

Dettagli Bibliografici
Autori principali:	Catapano, Edoardo, Varanasi, Anirudh, Roussel, Philippe, Degraeve, Robin, Higashi, Yusuke, Asanovski, Ruben, Kaczer, Ben, Fortuny, Javier Diaz, Waltl, Michael, Afanasiev, Valeri, De Greve, Kristiaan, Grill, Alexander
Natura:	Preprint
Pubblicazione:	2025
Soggetti:	Mesoscale and Nanoscale Physics Applied Physics
Accesso online:	Acceder al recurso
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