Further Characterisation of Digital Pixel Test Structures Implemented in a 65 nm CMOS Process

Fuente: arXiv
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Autori principali: Rinella, Gianluca Aglieri, Apadula, Nicole, Andronic, Anton, Antonelli, Matias, Aresti, Mauro, Baccomi, Roberto, Becht, Pascal, Beole, Stefania, Borri, Marcello, Braach, Justus, Buckland, Matthew Daniel, Buschmann, Eric, Camerini, Paolo, Carnesecchi, Francesca, Cecconi, Leonardo, Charbon, Edoardo, Contin, Giacomo, Dannheim, Dominik, de Melo, Joao, Deng, Wenjing, di Mauro, Antonello, Hasenbichler, Jan, Hillemanns, Hartmut, Hong, Geun Hee, Isakov, Artem, Jang, Hangil, Junique, Antoine, Kim, Minjung, Kluge, Alex, Kotliarov, Artem, Křížek, Filip, Lautner, Lukas, Lim, Sanghoon, Mager, Magnus, Marras, Davide, Martinengo, Paolo, Masciocchi, Silvia, Menzel, Marius Wilm, Munker, Magdalena, Piro, Francesco, Rachevski, Alexandre, Rebane, Karoliina, Reidt, Felix, Russo, Roberto, Sanna, Isabella, Sarritzu, Valerio, Senyukov, Serhiy, Snoeys, Walter, Sonneveld, Jory, Šuljić, Miljenko, Svihra, Peter, Tiltmann, Nicolas, Di Trapani, Vittorio, Usai, Gianluca, Van Beelen, Jacob Bastiaan, Vassilev, Mirella Dimitrova, Vernieri, Caterina, Villani, Anna
Natura: Preprint
Pubblicazione: 2025
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