Demonstration of Advanced Timing Schemes in Time-Resolved X-ray Diffraction Measurements

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Schmidt, Daniel, Stetten, David. v., Agthe, Michael, Pearson, Arwen R., Beddard, Goddfrey . S., Yorke, Briony A., Tellkamp, Friedjof, Gaal, Peter
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Descripción
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