Siegl, M., Zanon, J., Sink, J., da Cruz, A. R., Hedgeland, H., Curson, N. J., . . . Schofield, S. R. (2025). Imaging the Acceptor Wave Function Anisotropy in Silicon.
Chicago-Zitierstil (17. Ausg.)Siegl, Manuel, Julian Zanon, Joseph Sink, Adonai Rodrigues da Cruz, Holly Hedgeland, Neil J. Curson, Michael E. Flatté, und Steven R. Schofield. Imaging the Acceptor Wave Function Anisotropy in Silicon. 2025.
MLA-Zitierstil (9. Ausg.)Siegl, Manuel, et al. Imaging the Acceptor Wave Function Anisotropy in Silicon. 2025.
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