CHAOS: Chart Analysis with Outlier Samples

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Moured, Omar, Chen, Yufan, Liu, Ruiping, Reiß, Simon, Torr, Philip, Zhang, Jiaming, Stiefelhagen, Rainer
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition Computation and Language
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Internet

https://arxiv.org/abs/2505.17235