Good Enough: Is it Worth Improving your Label Quality?

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Jaus, Alexander, Marinov, Zdravko, Seibold, Constantin, Reiß, Simon, Kleesiek, Jens, Stiefelhagen, Rainer
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition
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https://arxiv.org/abs/2505.20928