Optically detected magnetic resonance of wafer-scale hexagonal boron nitride thin films

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Scholten, Sam C., Iwański, Jakub, Xing, Kaijian, Binder, Johannes, Dąbrowska, Aleksandra K., Tan, Hark H., Cheng, Tin S., Bradford, Jonathan, Mellor, Christopher J., Beton, Peter H., Novikov, Sergei V., Mischke, Jan, Pasko, Sergej, Yengel, Emre, Henning, Alexander, Krotkus, Simonas, Wysmołek, Andrzej, Tetienne, Jean-Philippe
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Materials Science Mesoscale and Nanoscale Physics
Acceso en línea:	Acceder al recurso
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Descripción
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