OmniAD: Detect and Understand Industrial Anomaly via Multimodal Reasoning

Fuente: arXiv

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Detalles Bibliográficos
Autores principales:	Zhao, Shifang, Lin, Yiheng, Han, Lu, Zhao, Yao, Wei, Yunchao
Formato:	Preprint
Publicado:	2025
Materias:	Computer Vision and Pattern Recognition
Acceso en línea:	Acceder al recurso
Etiquetas:	Agregar Etiqueta Sin Etiquetas, Sea el primero en etiquetar este registro!

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https://arxiv.org/abs/2505.22039