Flux-trapping characterization for superconducting electronics using a cryogenic widefield N-$V$ diamond microscope

Fuente: arXiv
Guardado en:
Detalles Bibliográficos
Autores principales: Kapur, Rohan T., Kehayias, Pauli, Tolpygo, Sergey K., Libson, Adam A., Haldeman, George, Muniz, Collin N., Wynn, Alex, O'Connor, Nathaniel J., Parmar, Neel A., Johnson, Ryan, Maccabe, Andrew C., Cummings, John, Mallek, Justin L., Braje, Danielle A., Schloss, Jennifer M.
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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