Thermal Property Microscopy with Compressive Sensing Frequency-Domain Thermoreflectance

Fuente: arXiv

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Yang, Haobo, Zhu, Zhenguo, Xie, Zhongnan, Du, Jinhong, Bai, Shuo, Guo, Hong, Liu, Te-Huan, Yang, Ronggui, Qian, Xin
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Applied Physics Materials Science
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