Deep Learning-based Multi Project InP Wafer Simulation for Unsupervised Surface Defect Detection

Fuente: arXiv

Gespeichert in:

Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Cantú, Emílio Dolgener, Wittmann, Rolf Klemens, Abdeen, Oliver, Wagner, Patrick, Samek, Wojciech, Baier, Moritz, Lapuschkin, Sebastian
Format:	Preprint
Veröffentlicht:	2025
Schlagworte:	Computer Vision and Pattern Recognition Artificial Intelligence Image and Video Processing
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https://arxiv.org/abs/2506.10713