Deep Learning-based Multi Project InP Wafer Simulation for Unsupervised Surface Defect Detection

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Cantú, Emílio Dolgener, Wittmann, Rolf Klemens, Abdeen, Oliver, Wagner, Patrick, Samek, Wojciech, Baier, Moritz, Lapuschkin, Sebastian
Formato: Preprint
Publicado: 2025
Materias:
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