Test code generation at Ericsson using Program Analysis Augmented Fine Tuned LLMs

Fuente: arXiv
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Detalles Bibliográficos
Autores principales: Krishna, Sai, Singh, Balvinder, Roychowdhury, Sujoy, Sridhara, Giriprasad, Mazumdar, Sourav, Sandelin, Magnus, Rentas, Dimitris, Nalepa, Maciej, Sawicki, Karol, Gajda, Jakub
Formato: Preprint
Publicado: 2025
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